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技術文章
TECHNICAL ARTICLES三維光學輪廓儀作為一種高精度、非接觸式的測量工具，正逐步成為多個領域中重要的測量設備。其非接觸式的測量方式不僅避免了傳統接觸式測量可能帶來的表面損傷，還顯著提高了測量效率和精度。以下將詳細闡述三維光學輪廓儀的廣泛應用及其在未來非接觸式測量領域的重要地位。一、高精度表面形貌測量三維光學輪廓儀能夠以納米級的分辨率測量物體表面的三維形貌，包括粗糙度、波紋度、表面結構、缺陷分析等。這種高精度的測量能力使得它在微電子、半導體、光學、材料科學等領域具有廣泛的應用。例如，在半導體制造中，三...
在納米科學研究和工業生產中，精密測量技術扮演著至關重要的角色。安徽澤攸科技有限公司，作為具有全部自主知識產權的科學儀器公司，其研發的探針臺產品，尤其是澤攸探針臺，成為了納米測量領域的先進者。本文將深入探討它的主要功能、技術特點及其在多個領域的應用。澤攸探針臺，作為澤攸科技的重要產品線之一，以其高精度、高分辨率和多功能性，在納米材料表征、器件測試及生物細胞操作等領域展現出強大的應用潛力。該探針臺采用了先進的掃描探針技術，能夠在微觀尺度下對樣品表面進行精確測量和操縱，為科研人員提...
在材料科學、生物醫學及納米技術等領域，掃描電鏡（SEM）作為重要的分析工具，其應用日益廣泛。澤攸科技推出的臺式掃描電鏡，憑借其緊湊的設計、高清晰度的成像及便捷的操作流程，受到了科研人員的青睞。以下將詳細介紹澤攸臺式掃描電鏡的使用方法。一、準備工作1.環境準備：確保操作環境相對干燥、無塵、無震動，以保證掃描效果的穩定和準確。2.樣品準備：樣品表面需進行導電處理，如金屬噴霧或蒸鍍，以消除電荷積累對成像的影響。同時，樣品表面應光滑平整，避免劃痕或污染。3.設備檢查：檢查掃描電鏡各部...
一、結構共聚焦白光干涉儀(雖然通常直接稱為白光干涉儀，但“共聚焦”可能指的是其聚焦和測量過程中的一個特性)主要由以下幾個關鍵系統構成：照明光源系統：通常采用鹵素光源，其中心波長為576納米，光譜范圍從340納米到780納米。這一系統負責提供穩定、均勻的光源，用于后續的干涉測量。光學成像系統：該系統采用無限遠光學成像方式，由顯微物鏡和成像目鏡(或現代設計中可能采用的CCD相機)組成。它負責接收從樣品和參考鏡反射回來的光線，并形成清晰的圖像或干涉條紋。垂直掃描控制系統：由壓電陶瓷...
切削刀具的塑造對最終產品的質量非常重要。它能提供刀具切削時的信息，例如能切削的材料總量。更具體地說，刀具的切削刃是表征刀具使用壽命、性能以及所需的切削速度和切削精度的關鍵特征。切削刃的評估半徑均勻性和邊緣的角度有助于理解切削刀具的切削性能。所有這些參數都能通過SensoPRO軟件的Edge模塊自動分析。因為SENSOFAR傳感器頭有3種光學測量技術，所以針對不同類型的刀削刃，我們可以選擇最合適的技術去評估。插入式刀削刃高精度的切割微鉆頭鉆頭的刃口刀削刃的分析模塊可以分析刃口的...
關于在半導體領域的應用，我們通常集中在制造過程的后端封裝環節：Sensofar的產品可以用來表征關鍵尺寸，表征材料的粗糙度，以及進行缺陷檢測等。碳化硅基晶圓由于其優異的熱穩定性與特殊的電子傳輸特性，以碳化硅基晶圓為基礎的芯片在很多新興電子器件比如說5G通訊等領域得到了廣泛應用。在制備碳化硅基集成電路時，通常采用的是化學氣相沉積技術。對其表面形貌的測量與表征對于了解其晶體生長過程是否均勻很有必要。SensoVIEW可以通過ISO標準規定的各空間，高度，以及混合參數來表征材料的形...
根據印刷電路板（PCB）的用途和設計的不同，制造出來的PCB會有很大差異。然而，有一些通用元素適用于所有的PCB，這些元素對其正確的實現其功能至關重要。經過長期的積累，Sensofar的分析軟件針對銅跡線、通孔和焊盤等元素做出了優化，能更便捷的分析這些特征。DocumentpreviewPCB中的金屬元件在這里，我們有一個用于電器的金屬部件。在制造的每件產品中都需要檢查幾個關鍵尺寸，SensoVIEW靈活的手動選擇的方法適合于這種樣品類型的表征。PCB封裝兼容性在完成PCB的...
****，光學應用是一個具有挑戰性的應用：樣品非常光滑、平坦，有時是透明的。只有**輪廓儀才能對其進行成像，并滿足該領域的嚴格要求。我們對透鏡和濾光片的經驗在于器件粗糙度、微透鏡陣列和薄膜厚度的測量。微透鏡陣列球面透鏡球面透鏡具有更簡單的設計和更低的制造成本，應用范圍廣泛?？梢苑治龀叽绾蚐a、Sq和Sz粗糙度參數。非球面透鏡以其較小的像差而著稱，非球面透鏡適用于光學設計，有極少的元件會尋求更好的性能?？梢苑治銮拾霃?，尺寸和10個非球面變形系數以及Sa、Sq和Sz粗糙度參數。...