當前位置：
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
服務熱線
17701039158
新聞資訊
NEWS INFORMATION在科學研究與醫療診斷中，顯微鏡扮演著至關重要的角色。而奧林巴斯超景深顯微鏡（OlympusDSX）則以其杰出的成像能力和高效的操作體驗，成為現代顯微鏡技術的杰出者。這種顯微鏡通過其特殊的超景深成像技術，能夠在微觀領域中提供全新的視野與細節，助力科學家和研究人員深入探索細胞結構、材料表面以及生物樣本。超景深顯微鏡的優勢在于其能夠同時捕捉樣本的多個焦平面。這種技術的核心在于其創新的圖像重建算法，通過合成不同焦點的圖像，最終呈現出一個清晰且深度廣闊的三維視圖。這種深度成像能力尤其適...
在科研與工業的微觀世界中，表面形貌的精確測量是理解材料性能、優化工藝流程的關鍵。澤攸臺階儀，作為高精度檢測裝置的先進者，以其杰出的測量能力和廣泛的應用領域，成為了納米科技領域的精密探索者。1.納米級測量精度澤攸臺階儀采用先進的掃描探針技術，能夠在納米和微米尺度上精確探測樣品表面的三維形貌。其核心工作原理是通過尖銳的探針在樣品表面進行掃描，捕捉探針在垂直方向上的微小位移變化，從而重建出樣品表面的三維形狀。這種技術使得它能夠在0.01nm的量級上探測樣品表面的微小變化，是目前分辨...
在材料科學與金屬工業的廣闊領域中，徠卡金相顯微鏡以其良好的成像能力和精準的檢測技術，成為揭示金屬內部微觀結構的重要工具。這款顯微鏡不僅為科研人員提供了深入探索材料性質的窗口，更為工業生產中的質量控制與產品優化提供了堅實的技術支撐。1.精密檢測，洞悉微觀世界徠卡金相顯微鏡通過先進的光學設計，如HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正技術，實現了圖像分辨率和反差的優化，確保了觀測結果的清晰與準確。它能夠直觀檢測金屬材料的微觀組織，如原材料中的缺陷、偏析、初生碳化物等，以及不同熱處理狀態下...
在科研與醫學領域，徠卡顯微鏡以其良好的成像質量和多樣化的功能，成為觀察微觀世界的得力助手。而在使用產品進行拍照時，正確設置比例尺是確保圖像數據準確性和可重復性的重要環節。本文將詳細介紹如何在徠卡顯微鏡拍照過程中設置比例尺，以助力科研工作者獲得更加精準的圖像信息。一、了解比例尺的重要性比例尺，或稱標尺，是圖像中用于表示實際尺寸與圖像尺寸之間比例關系的工具。在顯微鏡拍照中，設置正確的比例尺對于后續的數據分析、測量及對比研究至關重要。它確保了圖像中的每一個細節都能被準確地還原到實際...
澤攸探針臺，作為現代科技領域中一項重要的測量和分析工具，其功能和應用遠不止于表面的觀測與檢測。本文將深入探討它的作用及其在各個領域中的廣泛應用。澤攸探針臺是一種精密的科學儀器，其主要功能是通過使用探針來進行表面的掃描和分析。這些探針可以是原子力顯微鏡（AFM）、掃描電子顯微鏡（SEM）等，其核心原理在于利用微小探針在納米尺度上進行表面的測量和成像。這種高分辨率的測量技術使得它在各個學科和工業領域中都有著廣泛的應用。首先，澤攸探針臺在材料科學和納米技術領域中扮演著重要角色。通過...
在材料科學、機械工程以及半導體制造等領域，表面粗糙度是衡量產品質量和性能的重要指標之一。而Sensofar白光干涉儀，憑借其高精度、非接觸式以及實時測量的優勢，成為了測量表面粗糙度的理想選擇。1.高精度測量，洞察微觀世界Sensofar白光干涉儀通過測量物體表面反射光線的相位差，能夠精確計算出表面的粗糙度參數，如均方根粗糙度（RMS）等。其工作原理是將一束白光分成兩束，經過不同路徑后再匯聚形成干涉條紋。這些干涉條紋的間距和形態直接反映了表面的形狀和粗糙度，通過對干涉條紋的精細...
在納米科技日益發展的今天，對微觀世界的探索已成為科研和工業領域的重要任務。澤攸探針臺作為納米科技領域的重要工具，以其高精度、高分辨率和廣泛的適用性，成為了科研人員和企業工程師的得力助手。本文將詳細介紹它的特點、技術規格、應用領域及其重要性。一、概述澤攸探針臺是一款高性能納米探針臺，專為納米科學研究提供良好的儀器支持。該探針臺采用了壓電陶瓷驅動技術，具有分辨率高、尺寸緊湊、行程大、操作簡單等特點，能夠在真空環境下進行各種納米精度運動操作。它的應用范圍廣泛，包括納米材料操縱、納米...
在精密測量領域，技術的不斷革新推動著行業向前發展。Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡憑借其良好的性能和特殊優勢，成為了行業內的先進者。本文將詳細介紹它的使用優勢，并通過具體數據和特點進行闡述。一、技術融合與創新Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡結合了共聚焦和干涉技術，為用戶提供了測量體驗。該技術無需插拔任何硬件，即可在軟件內自動實現共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換，從而使用戶能夠同時享受到共聚焦技術的超高XY向分辨率和干涉技術的亞納米級Z向分辨率及測量重復性的特點。...