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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統，將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位加熱。

ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產品介紹ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。原位拉伸臺參數載荷范圍：0-1000N位移分辨率：2

蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實現從微米到納米微加工的成像加工系統。

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能力。

蔡司 GeminiSEM系列場發射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電子光學系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質量、易用性和靈活性。