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PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊，可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺直接貼緊樣品，保證了溫度的準確度和穩定性。

掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位加熱。

PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。