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ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

SEM冷凍真空傳輸系統高匹配360°(無限)旋轉冷臺，冷臺傾轉角度55°，冷臺溫度≤180℃。

SEM熱電芯片臺可搭配電學測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內對電學探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。