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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統，同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。

PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統是原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。

低溫液氮探針臺 LN-4H-06主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規、智能溫控儀等組成。

干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06真空腔體：真空度優于6×10-4 Pa。降溫后優于6×10-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或者額外的電纜）。